1 . The measuring condition for principle angle in spectroscopic ellipsometry is analyzed.

對橢圓偏振光譜中的主角測量條件進行了分析.

來自互聯網

2 . Angle of incidence and wave length for ellipsometry method were studied.

對橢圓偏振法的入射角和波長進行了探討.

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3 . A simple method using spectroscopic ellipsometry to measure uniaxial liquid crystal layer is introduced.

探討了利用普通光譜型橢偏儀對各向異性液晶層進行綜合性測量的可行性.

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4 . The extracted results are in good agreement with the results measured by ellipsometry .

柵介質厚度模擬結果和橢偏儀所測實驗結果吻合良好.

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1 . 橢圓光度法

1 - 2s。這是其他方法如中子散射(neutron reflection)、橢圓光度法(ellipsometry)、反射測定法(reflectometry)和表面等離子體共振(surface plasmon resonance)所難以.

2 . 橢圓測量術

ellipsometric analysis 橢圓分析ellipsometry橢圓測量術elliptical aperture 橢圓孔徑

3 . 橢圓偏振術

【正文快照】： 橢圓偏振術 (Ellipsometry)是通過測量橢圓偏振光在兩相界面或固體表面膜上反射所產生的偏振態的改變 ,以檢測界面或表面膜有關性質和結構的方法.

4 . 橢圓偏振

Angle of incidence and wave length for ellipsometrymethod were studied., 對橢圓偏振法的入射角和波長進行了探討.

ellipsometry相關短語搭配

1 . 消偏振鏡橢圓率測量術

depolarizer (1)消偏振鏡,消偏振器(2)退極化劑depolarizer ellipsometry 消偏振鏡橢圓率測量術depolarizers 消偏光元件depolarizing prism 消偏振棱鏡.

1 . 橢圓偏振光譜

graze ellipsometry spectrum ; Tween 20 ; Zinc electrode ; Electrolytic solution ; Additive ;掠射式橢圓偏振光譜；吐溫20；鋅電極；電解液；添加劑；

1 . 外差法

外差系統heterodyning外差法heterodyning ellipsometry外差橢圓偏振測量術heteroepitaxial optical wave guide.

2 . 外差橢圓偏振測量術

2012年7月11日?-? heterodyne spectroscopy 外差光譜學 heterodyne system 外差系統 heterodyning 外差法 heterodyning ellipsometry 外差橢圓偏振測量術heteroepitaxial optical.

1 . 橢偏儀

在本實驗中，溶液的濃度是控制薄膜厚度的主要因素，其厚度主要由譜學橢偏儀（Spectroscopic Ellipsometry）測定。 聚合物薄膜主要用旋轉成膜的方法制備。

2 . 橢偏光譜儀

...及表征263.1 PECVD薄膜沉積系統263.2 薄膜表征設備273.2.1 掃描電子顯微鏡(SEM)273.2.2 橢偏光譜儀(Spectroscopic Ellipsometry)283.2.3 傅立葉轉換紅外光譜儀(FTIR)293.2.4 紫外可見吸收(透射)譜儀(UV-Vis)293.3 電極制備及相關設備303.3.1 磁控濺射法(Magne.